Destacar:
Equipamento de ensaio 3D-AOI PCBA
, 0Equipamento de ensaio PCBA de.6-6 mm
, Equipamento de ensaio PCBA de alta precisão
tamanho: |
50 × 50 mm ~ 460 × 510 mm |
Espessura: |
0.6-6 mm (H) |
Em cima: |
Câmara industrial a cores de 1200W |
Ponto inferior: |
40 mm |
Lado do processo: |
>= 3 mm |
Defeitos dos componentes: |
Peças em falta, deslocamento, inclinação, estela, suporte lateral, voltas de peças, peças erradas, d |
Defeitos da pasta de solda: |
mais estanho, menos estanho, estanho, esfera de estanho, solda virtual, solda ausente Posicionamento |
em todo o lado: |
Fonte de luz esférica de integração de quatro cores, luz de estrutura de faixa de luz coaxial |
Resolução: |
10um |
Tamanho de referência principal (mm): |
1280*1680*1580 (W*H*D) |
Peso de referência: |
sobre 900KG |
Suprimento de gás: |
0.4-0.7Mpa (electricidade pura opcional) |
Fornecimento de energia: |
AC 220V |
Capacidade de substituição: |
Substituição rápida do equipamento, tempo de substituição <= 1h/pessoa/unidade |
* Forte generalização, alta taxa de detecção, baixa taxa de falso alarme
* Conectividade em nuvem de ponta a ponta, suporte à gestão remota
* Suporte ao sistema MES, suporte à operação offline, suporte à depuração ininterrupta online.
* 0 relatório em falta, conjunto de mais de 40 estratégias de modelos de IA de ponta, detecção eficiente e precisa, taxa de detecção falsa < 1%, tecnologia de IA confiável, reduzir efetivamente o erro de julgamento do algoritmo
* Tempo de programação < 1 minuto, sem biblioteca de componentes, para alcançar a programação real de um clique
* 1 milissegundo algoritmo de inferência, a velocidade de inferência é muito melhorada, algoritmo modelo é extremamente otimizado
* Não depende da biblioteca do dispositivo, complete a detecção inteligente do dispositivo; e reconheça dispositivos não incluídos no CAD ((Informações de localização do dispositivo)):
* Aprendizagem eficiente das características globais dos dispositivos e dos defeitos, geração inteligente de diferentes dispositivos, diferentes áreas de detecção,diferentes tipos de defeito dos indicadores de decisão;
* Normalização de múltiplos limiares complexos para a detecção de defeitos em ajustes de limiares de tolerância sem necessidade de descrever e definir detalhes do dispositivo;E através do estudo dos dados estatísticos, são apresentadas as sugestões de ajustamento do limiar quantitativo.
* Não há necessidade de exigências técnicas excessivas para o pessoal de programação, e substitutos podem trabalhar a qualquer momento.
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